合作伙伴：東莞某大型檢測公司

儀器類型：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

品牌：安捷倫

型號：ICP-OES 5800VDV＋SPS4

2025年05月29日， 【喜訊速遞】熱烈祝賀東莞某大型檢測公司成功引入我司電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀安捷倫ICP-OES 5800VDV＋SPS4自動進樣器！設備已完成安裝調試與專業(yè)培訓，正式投入高效檢測。感恩客戶的信賴與認可，未來我們將持續(xù)以專業(yè)技術賦能行業(yè)，共探檢測新高度！

安捷倫 ICP - OES 5800VDV 設備介紹

ICP - OES（電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀）是一種用于分析金屬元素的良好設備。安捷倫的 ICP - OES 5800VDV 具有良好的性能。它能夠快速、準確地檢測多種金屬元素的含量，通過檢測樣品中金屬元素發(fā)射的特征光譜來實現(xiàn)定量和定性分析。其波長范圍寬，可覆蓋眾多金屬元素的特征波長，能夠滿足不同復雜樣品的金屬檢測需求，適用于環(huán)境、食品、材料等多個領域的金屬元素檢測。

SPS4 自動進樣器的作用

SPS4 自動進樣器可以與 ICP - OES 5800VDV 配合使用，實現(xiàn)自動化的樣品進樣過程。它可以大大提高檢測效率，減少人為操作帶來的誤差。在檢測大量樣品時，自動進樣器能夠按照預設的程序依次將樣品送入等離子體光源，保證進樣的一致性和穩(wěn)定性。這對于檢測公司來說是非常重要的，因為他們通常需要處理大量的樣品，自動進樣器可以減輕工作人員的工作負擔，同時保證檢測過程的連續(xù)性和準確性。

關于金屬元素波長校正

金屬元素波長校正通過是設備正常運行并提供準確檢測結果的重要環(huán)節(jié)。對于 ICP - OES 技術，準確的波長校準可以確保儀器能夠正確識別不同金屬元素的特征光譜。如果波長出現(xiàn)偏差，可能會導致金屬元素的定性和定量分析結果不準確。通過校正，可以保證設備在規(guī)定的波長范圍內精確檢測金屬元素，使檢測數(shù)據(jù)具有可靠性和可重復性，這對于東莞大型檢測公司的檢測業(yè)務質量保障具有關鍵意義。

波長校正對 ICP-OES 檢測準確性有著至關重要的影響，主要體現(xiàn)在以下幾方面：

確保元素特征譜線的精確定位

ICP-OES 通過檢測元素在特定波長下的光譜發(fā)射強度來確定其含量，若波長校正不準確，可能導致對元素特征譜線的定位偏差，進而無法準確識別和定量分析元素。例如，某一元素的特征譜線若沒有精確對應，測量出的濃度將不準確，甚至可能產(chǎn)生誤導性的分析結果。

提高定量分析的準確性

波長校正可消除儀器波長實測值與標準值之間的偏差，保證測量波長與真實波長的一致性。從而在定量分析時，能夠依據(jù)準確的波長測量光譜強度，進而得到更準確的元素含量測定結果，這對于需要高精度定量分析的領域，如環(huán)境監(jiān)測、食品安全檢測等尤為重要。

保障數(shù)據(jù)的可靠性與一致性

準確的波長校正有助于確保儀器在不同時間、不同環(huán)境條件下測量結果的一致性和可重復性。若缺乏有效的波長校正，儀器在不同運行條件下可能出現(xiàn)波長漂移，導致對同一元素在不同測量批次或時間的檢測結果存在差異，影響數(shù)據(jù)的可靠性和可比性。

減少光譜干擾

在實際測量中，不同元素的光譜可能會相互重疊或干擾。通過精確的波長校正，可以更準確地分離和識別相鄰的譜線，有效減少光譜干擾，提高分析結果的準確性。例如安捷倫 ICP-OES 5800VDV 的自動背景校正功能和快速線性干擾校正（FLIC）功能，可在準確的波長校正基礎上，更好地消除光譜干擾。

符合標準和規(guī)范要求

在許多行業(yè)和領域的檢測標準和規(guī)范中，對儀器的波長校正都有明確的要求。通過嚴格的波長校正，可以確保儀器符合相關標準和規(guī)范，使檢測結果具有法律效力和可信度，滿足質量控制和認證認可的要求。